Микропроцессорная многомодульная тензометрическая система; Дефектоскопия; № 1

Opis bibliograficzny
Parent link:	Дефектоскопия.— , 1965- № 1.— 2004.— С. 82-87
Kolejni autorzy:	Серьезнов А. Н., Степанова Л. Н., Кожемякин В. Л., Лебедев Е. Ю.
Język:	rosyjski
Wydane:	2004
Seria:	Радиационные, оптические и другие методы
Hasła przedmiotowe:	информайионно-измерительные системы теплопрочностные испытания тензометрический метод прогнозирование объекты контроля
Format:	Rozdział
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=428539

Opis
Nie ma specyfikacji.

Podobne zapisy