Влияние неточности настройки бетатронного дефектоскопа на чувствительность контроля; Дефектоскопия; № 1

Bibliografiset tiedot
Parent link:Дефектоскопия.— , 1965-
№ 1.— 1972.— С. 113-117
Päätekijä: Айзенштейн Р. А.
Muut tekijät: Шубович С. И.
Kieli:venäjä
Julkaistu: 1972
Aiheet:
Aineistotyyppi: Kirjan osa
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=427984