Влияние неточности настройки бетатронного дефектоскопа на чувствительность контроля; Дефектоскопия; № 1

Podrobná bibliografie
Parent link:Дефектоскопия.— , 1965-
№ 1.— 1972.— С. 113-117
Hlavní autor: Айзенштейн Р. А.
Další autoři: Шубович С. И.
Jazyk:ruština
Vydáno: 1972
Témata:
Médium: Kapitola
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=427984

MARC

LEADER 00000naa2a2200000 4500
001 427984
005 20231101074748.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\prd\87461 
035 |a RU\TPU\tpu\11256 
090 |a 427984 
100 |a 20101005a1972 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
200 1 |a Влияние неточности настройки бетатронного дефектоскопа на чувствительность контроля  |f Р. А. Айзенштейн, С. И. Шубович 
461 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\prd\151  |t Дефектоскопия  |d 1965- 
463 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\prd\61602  |t № 1  |v С. 113-117  |d 1972 
610 1 |a бетатроны 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
700 1 |a Айзенштейн  |b Р. А. 
701 1 |a Шубович  |b С. И. 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20030829  |g PSBO 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20131014  |g RCR 
942 |c BK