Айзенштейн Р. А. & Шубович С. И. (1972). Влияние неточности настройки бетатронного дефектоскопа на чувствительность контроля. 1972.
Citace podle Chicago (17th ed.)Айзенштейн Р. А. a Шубович С. И. Влияние неточности настройки бетатронного дефектоскопа на чувствительность контроля. 1972, 1972.
Citace podle MLA (9th ed.)Айзенштейн Р. А. a Шубович С. И. Влияние неточности настройки бетатронного дефектоскопа на чувствительность контроля. 1972, 1972.
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..