Айзенштейн Р. А. & Шубович С. И. (1972). Влияние неточности настройки бетатронного дефектоскопа на чувствительность контроля. 1972.
Chicago-viite (17. p.)Айзенштейн Р. А. ja Шубович С. И. Влияние неточности настройки бетатронного дефектоскопа на чувствительность контроля. 1972, 1972.
MLA-viite (9. p.)Айзенштейн Р. А. ja Шубович С. И. Влияние неточности настройки бетатронного дефектоскопа на чувствительность контроля. 1972, 1972.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.