Айзенштейн Р. А. & Шубович С. И. (1972). Влияние неточности настройки бетатронного дефектоскопа на чувствительность контроля. 1972.
Chicago Style (17th ed.) CitationАйзенштейн Р. А. and Шубович С. И. Влияние неточности настройки бетатронного дефектоскопа на чувствительность контроля. 1972, 1972.
MLA citiranjeАйзенштейн Р. А. and Шубович С. И. Влияние неточности настройки бетатронного дефектоскопа на чувствительность контроля. 1972, 1972.
Opozorilo: Ti citati niso vedno 100% točni.