Дефектообразование, ударная ионизация и электрическая прочность микронных слоев щелочно-галоидных кристаллов, автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук спец. 01.04.07

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Еханин С. Г. Сергей Георгиевич
Körperschaft: Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники
Zusammenfassung:Заглавие с титульного экрана
Электронная версия печатной публикации
Sprache:Russisch
Veröffentlicht: Томск, [Б. и.], 2002
Schlagworte:
Online-Zugang:http://www.lib.tpu.ru/fulltext/a/2002/24.pdf
Format: Elektronisch Buch
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=42554

Ähnliche Einträge