Дефектообразование, ударная ионизация и электрическая прочность микронных слоев щелочно-галоидных кристаллов: автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук; спец. 01.04.07

Opis bibliograficzny
1. autor:	Еханин С. Г. Сергей Георгиевич
Korporacja:	Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники
Streszczenie:	Заглавие с титульного экрана Электронная версия печатной публикации
Język:	rosyjski
Wydane:	Томск, [Б. и.], 2002
Hasła przedmiotowe:	Щелочно-галоидные кристаллы > Дефекты кристаллография микронные слои электрическая прочность электрические поля кинетика авторефераты диссертаций электронный ресурс
Dostęp online:	http://www.lib.tpu.ru/fulltext/a/2002/24.pdf
Format:	Elektroniczne Książka
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=42554

Internet