Дефектообразование, ударная ионизация и электрическая прочность микронных слоев щелочно-галоидных кристаллов: автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук; спец. 01.04.07

Bibliografski detalji
Glavni autor:	Еханин С. Г. Сергей Георгиевич
Autor kompanije:	Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники
Sažetak:	Заглавие с титульного экрана Электронная версия печатной публикации
Jezik:	ruski
Izdano:	Томск, [Б. и.], 2002
Teme:	Щелочно-галоидные кристаллы > Дефекты кристаллография микронные слои электрическая прочность электрические поля кинетика авторефераты диссертаций электронный ресурс
Online pristup:	http://www.lib.tpu.ru/fulltext/a/2002/24.pdf
Format:	Elektronički Knjiga
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=42554

Internet