Дефектообразование, ударная ионизация и электрическая прочность микронных слоев щелочно-галоидных кристаллов: автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук; спец. 01.04.07

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Еханин С. Г. Сергей Георгиевич
מחבר תאגידי: Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники
סיכום:Заглавие с титульного экрана
Электронная версия печатной публикации
שפה:רוסית
יצא לאור: Томск, [Б. и.], 2002
נושאים:
גישה מקוונת:http://www.lib.tpu.ru/fulltext/a/2002/24.pdf
פורמט: אלקטרוני ספר
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=42554

MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 42554
005 20231101210746.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\43868 
090 |a 42554 
100 |a 20020909d2002 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a dm 001zy 
135 |a drbn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Дефектообразование, ударная ионизация и электрическая прочность микронных слоев щелочно-галоидных кристаллов  |b Электронный ресурс  |e автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук  |f С. Г. Еханин  |g Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники  |e спец. 01.04.07 
203 |a Текст  |c электронный 
210 |a Томск  |c [Б. и.]  |d 2002 
215 |a 1 файл (951 Kb) 
230 |a Электронные текстовые данные (1 файл : 951 Kb) 
300 |a Заглавие с титульного экрана 
300 |a Электронная версия печатной публикации 
337 |a Adobe Reader 
452 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\book\42160  |t Дефектообразование, ударная ионизация и электрическая прочность микронных слоев щелочно-галоидных кристаллов  |o автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук:  |f С. Г. Еханин  |g Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники  |c Томск  |n Б.и.  |d 2002  |p 43 с.  |a Еханин, Сергей Георгиевич 
606 1 |a Щелочно-галоидные кристаллы  |x Дефекты  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\80319  |9 88044 
610 1 |a кристаллография 
610 1 |a микронные слои 
610 1 |a электрическая прочность 
610 1 |a электрические поля 
610 1 |a кинетика 
610 1 |a авторефераты диссертаций 
610 1 |a электронный ресурс 
675 |a 548.4(04)  |v 3 
686 |a 01.04.07  |2 oksvnk 
700 1 |a Еханин  |b С. Г.  |g Сергей Георгиевич 
712 0 2 |a Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\376 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20020909  |g PSBO 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20200818  |g PSBO 
856 4 |u http://www.lib.tpu.ru/fulltext/a/2002/24.pdf 
942 |c BK