Дефектообразование, ударная ионизация и электрическая прочность микронных слоев щелочно-галоидных кристаллов: автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук; спец. 01.04.07

Библиографические подробности
Главный автор:	Еханин С. Г. Сергей Георгиевич
Автор-организация:	Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники
Примечания:	Заглавие с титульного экрана Электронная версия печатной публикации
Язык:	русский
Опубликовано:	Томск, [Б. и.], 2002
Предметы:	Щелочно-галоидные кристаллы > Дефекты кристаллография микронные слои электрическая прочность электрические поля кинетика авторефераты диссертаций электронный ресурс
Online-ссылка:	http://www.lib.tpu.ru/fulltext/a/2002/24.pdf
Формат:	Электронный ресурс Книга
Запись в KOHA:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=42554

Описание
Объем:	1 файл (951 Kb)
Примечания:	Заглавие с титульного экрана Электронная версия печатной публикации

Схожие документы