Излучение при многократном прохождении электронов через тонкие внутренние мишени в Томском синхротроне
| Parent link: | Известия вузов. Физика/ Министерство общего и профессионального образования Российской Федерации ; Томский Госуниверситет.— , 1958-.— 0021-3411 Т. 33, № 6.— 1991.— С. 81-87 |
|---|---|
| Hoofdauteur: | |
| Andere auteurs: | , |
| Samenvatting: | Экспериментально и теоретически показано, что применение тонких (примерно Ю-3 р. д.) внутренних мишеней в синхротроне приводит к многократному прохождению электронов через них при сбросе. Кратность прохождения электронов определяется их энергией, параметрами синхротрона, толщиной, структурой и материалом мишени и приводит к увеличению ее эффективной толщины. Применение скрепера - толстой подвижной мишени на определенном азимуте синхротрона - обеспечивает однократное прохождение электронов, что позволяет исследовать спектральные и угловые характеристики гамма-излучения электронов от тонких монокристаллов, в которых можно пренебречь влиянием деканалирования. |
| Gepubliceerd in: |
1991
|
| Onderwerpen: | |
| Formaat: | Hoofdstuk |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=424733 |
| Samenvatting: | Экспериментально и теоретически показано, что применение тонких (примерно Ю-3 р. д.) внутренних мишеней в синхротроне приводит к многократному прохождению электронов через них при сбросе. Кратность прохождения электронов определяется их энергией, параметрами синхротрона, толщиной, структурой и материалом мишени и приводит к увеличению ее эффективной толщины. Применение скрепера - толстой подвижной мишени на определенном азимуте синхротрона - обеспечивает однократное прохождение электронов, что позволяет исследовать спектральные и угловые характеристики гамма-излучения электронов от тонких монокристаллов, в которых можно пренебречь влиянием деканалирования. |
|---|