Обнаружение параметрического рентгеновского излучения умеренно релятивистских протонов в кристаллах; Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики; Т. 81, вып. 6

Обнаружение параметрического рентгеновского излучения умеренно релятивистских протонов в кристаллах; Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики; Т. 81, вып. 6

Detalles Bibliográficos
Parent link:Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики: научно-теоретический журнал/ Российская академия наук.— , 1970-.— 0370-274X
Т. 81, вып. 6.— 2005.— С. 305-308
Otros Autores: Адищев Ю. Н. Юрий Николаевич, Артемов А. С., Афанасьев С. В., Бойко В. В., Воеводин М. А., Волков В. И., Гоголев А. С. Алексей Сергеевич, Забаев В. Н. Виктор Николаевич, Ефимов А. Н., Ефремов Ю. В., Коваленко А. Д., Пивоваров Ю. Л. Юрий Леонидович, Потылицын А. П. Александр Петрович, Романов С. В., Сайфулин Ш. З., Силаев Е. А., Таратин А. М., Тимошенков С. П., Углов С. Р. Сергей Романович
Sumario:Зарегистрированы спектральные максимумы параметрического рентгеновского излучения при взаимодействии умеренно релятив. протонов с различными кристаллами. Положения максимумов излучения в спектрах зависят от угла ориентации кристалла и соответствуют теоретическим значениям. Измерения выполнены с кристаллами Si и графита на пучке протонов 5 ГэВ Нуклотрона ЛВЭ ОИЯИ.
Lenguaje:ruso
Publicado: 2005
Materias:
труды учёных ТПУ
Formato: Capítulo de libro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=424553

Ejemplares similares

Ejemplares similares