Обнаружение параметрического рентгеновского излучения умеренно релятивистских протонов в кристаллах; Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики; Т. 81, вып. 6
| Parent link: | Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики: научно-теоретический журнал/ Российская академия наук.— , 1970-.— 0370-274X Т. 81, вып. 6.— 2005.— С. 305-308 |
|---|---|
| Інші автори: | , , , , , , , , , , , , , , , , , , |
| Резюме: | Зарегистрированы спектральные максимумы параметрического рентгеновского излучения при взаимодействии умеренно релятив. протонов с различными кристаллами. Положения максимумов излучения в спектрах зависят от угла ориентации кристалла и соответствуют теоретическим значениям. Измерения выполнены с кристаллами Si и графита на пучке протонов 5 ГэВ Нуклотрона ЛВЭ ОИЯИ. |
| Мова: | Російська |
| Опубліковано: |
2005
|
| Предмети: | |
| Формат: | Частина з книги |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=424553 |