Обнаружение параметрического рентгеновского излучения умеренно релятивистских протонов в кристаллах

Bibliografske podrobnosti
Parent link:Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики: научно-теоретический журнал/ Российская академия наук.— , 1970-.— 0370-274X
Т. 81, вып. 6.— 2005.— С. 305-308
Drugi avtorji: Адищев Ю. Н. Юрий Николаевич, Артемов А. С., Афанасьев С. В., Бойко В. В., Воеводин М. А., Волков В. И., Гоголев А. С. Алексей Сергеевич, Забаев В. Н. Виктор Николаевич, Ефимов А. Н., Ефремов Ю. В., Коваленко А. Д., Пивоваров Ю. Л. Юрий Леонидович, Потылицын А. П. Александр Петрович, Романов С. В., Сайфулин Ш. З., Силаев Е. А., Таратин А. М., Тимошенков С. П., Углов С. Р. Сергей Романович
Izvleček:Зарегистрированы спектральные максимумы параметрического рентгеновского излучения при взаимодействии умеренно релятив. протонов с различными кристаллами. Положения максимумов излучения в спектрах зависят от угла ориентации кристалла и соответствуют теоретическим значениям. Измерения выполнены с кристаллами Si и графита на пучке протонов 5 ГэВ Нуклотрона ЛВЭ ОИЯИ.
Jezik:ruščina
Izdano: 2005
Teme:
Format: Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=424553
Opis
Izvleček:Зарегистрированы спектральные максимумы параметрического рентгеновского излучения при взаимодействии умеренно релятив. протонов с различными кристаллами. Положения максимумов излучения в спектрах зависят от угла ориентации кристалла и соответствуют теоретическим значениям. Измерения выполнены с кристаллами Si и графита на пучке протонов 5 ГэВ Нуклотрона ЛВЭ ОИЯИ.