Методы диагностики и анализа микро- и наносистем, учебное пособие

Библиографические подробности
Главный автор:	Лачинов А. Н.
Примечания:	Данное учебное пособие предназначено для студентов физико-математического факультета, направлений подготовки: 210600 Нанотехнология; 210100 Электроника и наноэлектроника. Рекомендуется в качестве дополнительного материала к курсу лекций по дисциплине «Методы диагностики и анализа микро- инаносистем». Изучение данной дисциплины направлено на ознакомление с кругом актуальных задач диагностики наноматериалов и систем. Рассматриваются вопросы: основы сканирующей туннельной микроскопии, спектроскопия поверхности, физические основы атомно-силовой микроскопии; свойства поверхности в атомно-силовой микроскопии, контактный и полуконтактный методы исследования поверхности, метод фазового контраста, измерение распределения магнитных и электрических полей, нанооптика и микроскопия ближнего поля Книга из коллекции БГПУ имени М. Акмуллы - Информатика
Опубликовано:	Уфа, БГПУ имени М. Акмуллы, 2013
Предметы:	физические основы сканирующая туннельная микроскопия туннелирование через потенциальный барьер спектроскопия поверхности методы получения атомного разрешения физические основы атомносиловой мироскопии контактный метод полуконтактный метод исследования поверхности неконтактный режим фазовый контраст измерение распределения магнитных полей нанооптика микроскопия ближнего поля оптические наноантенны метаматериалы определение толщины тонких слоев интерферометрия эллипсометрия рентгеноструктурный анализ химический анализ рентгеновская спектроскопия оптическая спектроскопия колебательная спектроскопия мессбауэровская спектроскопия
Online-ссылка:	http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=42398 https://e.lanbook.com/img/cover/book/42398.jpg
Формат:	Электронный ресурс Книга