Методы диагностики и анализа микро- и наносистем, учебное пособие
| Hovedforfatter: | |
|---|---|
| Summary: | Данное учебное пособие предназначено для студентов физико-математического факультета, направлений подготовки: 210600 Нанотехнология; 210100 Электроника и наноэлектроника. Рекомендуется в качестве дополнительного материала к курсу лекций по дисциплине «Методы диагностики и анализа микро- инаносистем». Изучение данной дисциплины направлено на ознакомление с кругом актуальных задач диагностики наноматериалов и систем. Рассматриваются вопросы: основы сканирующей туннельной микроскопии, спектроскопия поверхности, физические основы атомно-силовой микроскопии; свойства поверхности в атомно-силовой микроскопии, контактный и полуконтактный методы исследования поверхности, метод фазового контраста, измерение распределения магнитных и электрических полей, нанооптика и микроскопия ближнего поля Книга из коллекции БГПУ имени М. Акмуллы - Информатика |
| Udgivet: |
Уфа, БГПУ имени М. Акмуллы, 2013
|
| Fag: | |
| Online adgang: | http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=42398 https://e.lanbook.com/img/cover/book/42398.jpg |
| Format: | Electronisk Bog |
MARC
| LEADER | 00000nam0a2200000 i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 42398 | ||
| 010 | |a 978-5-87978-817-4 | ||
| 100 | |a 20250516d2013 k y0rusy01020304ca | ||
| 101 | 0 | |a rus | |
| 102 | |a RU | ||
| 105 | |a y j 000zy | ||
| 106 | |a z | ||
| 200 | 1 | |a Методы диагностики и анализа микро- и наносистем |b Электронный ресурс |f Лачинов А. Н. |e учебное пособие |g рец.: Асфандиаров Н.Л., Гадиев Р.М. | |
| 210 | |a Уфа |b Уфа |c БГПУ имени М. Акмуллы |d 2013 | ||
| 215 | |a 60 с. | ||
| 330 | |a Данное учебное пособие предназначено для студентов физико-математического факультета, направлений подготовки: 210600 Нанотехнология; 210100 Электроника и наноэлектроника. Рекомендуется в качестве дополнительного материала к курсу лекций по дисциплине «Методы диагностики и анализа микро- инаносистем». Изучение данной дисциплины направлено на ознакомление с кругом актуальных задач диагностики наноматериалов и систем. Рассматриваются вопросы: основы сканирующей туннельной микроскопии, спектроскопия поверхности, физические основы атомно-силовой микроскопии; свойства поверхности в атомно-силовой микроскопии, контактный и полуконтактный методы исследования поверхности, метод фазового контраста, измерение распределения магнитных и электрических полей, нанооптика и микроскопия ближнего поля | ||
| 333 | |a Книга из коллекции БГПУ имени М. Акмуллы - Информатика | ||
| 610 | 0 | |a физические основы | |
| 610 | 0 | |a сканирующая туннельная микроскопия | |
| 610 | 0 | |a туннелирование через потенциальный барьер | |
| 610 | 0 | |a спектроскопия поверхности | |
| 610 | 0 | |a методы получения атомного разрешения | |
| 610 | 0 | |a физические основы атомносиловой мироскопии | |
| 610 | 0 | |a контактный метод | |
| 610 | 0 | |a полуконтактный метод | |
| 610 | 0 | |a исследования поверхности | |
| 610 | 0 | |a неконтактный режим | |
| 610 | 0 | |a фазовый контраст | |
| 610 | 0 | |a измерение распределения магнитных полей | |
| 610 | 0 | |a нанооптика | |
| 610 | 0 | |a микроскопия ближнего поля | |
| 610 | 0 | |a оптические наноантенны | |
| 610 | 0 | |a метаматериалы | |
| 610 | 0 | |a определение толщины тонких слоев | |
| 610 | 0 | |a интерферометрия | |
| 610 | 0 | |a эллипсометрия | |
| 610 | 0 | |a рентгеноструктурный анализ | |
| 610 | 0 | |a химический анализ | |
| 610 | 0 | |a рентгеновская спектроскопия | |
| 610 | 0 | |a оптическая спектроскопия | |
| 610 | 0 | |a колебательная спектроскопия | |
| 610 | 0 | |a мессбауэровская спектроскопия | |
| 675 | |a 544.023 | ||
| 686 | |a 24.5я73 |2 rubbk | ||
| 700 | 1 | |a Лачинов |b А. Н. | |
| 801 | 1 | |a RU |b Издательство Лань |c 20250516 |g RCR | |
| 856 | 4 | |u http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=42398 | |
| 856 | 4 | 1 | |u https://e.lanbook.com/img/cover/book/42398.jpg |
| 953 | |a https://e.lanbook.com/img/cover/book/42398.jpg | ||