Основы зондовых технологий методическое пособие

Основы зондовых технологий, методическое пособие

Détails bibliographiques
Auteur principal:	Корнилов В. М.
Autres auteurs:	Галиев А. Ф.
Résumé:	В пособии изложены основные этапы развития зондовой микроскопии. Подробно рассмотрены принципы и физические основы работы зондовых микроскопов. Пособие содержит цикл лабораторных работ Книга из коллекции БГПУ имени М. Акмуллы - Физика
Publié:	Уфа, БГПУ имени М. Акмуллы, 2013
Sujets:	сканирующая туннельная микроскопия туннельная спектроскопия факторы влияющие на качество изображения атомно-силовая микроскопия нанолитография лабораторный практикум
Accès en ligne:	http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=42379 https://e.lanbook.com/img/cover/book/42379.jpg
Format:	Électronique Livre

Documents similaires

Основы сканирующей зондовой микроскопии: учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений
par: Миронов В. Л. Виктор Леонидович
Publié: (Нижний Новгород, ИФМ РАН, 2004)

Методы сканирующей зондовой микроскопии при исследовании структуры и свойств органических материалов
par: Набиуллин И. Р.
Publié: (Уфа, БГПУ имени М. Акмуллы, 2016)

Мезомеханика поведения тонких пленок Cu на подложке при одноосном растяжении и термическом отжиге. Многоуровневый подход; Физическая мезомеханика; Т. 8, № 4
Publié: (2005)

Зондовые методы диагностики структуры и свойств наноматериалов: электронный курс
par: Панина А. А. Александра Анатольевна
Publié: (Томск, TPU Moodle, 2017)

Методы исследования материалов
par: Газенаур Е. Г.
Publié: (Кемерово, КемГУ, 2013)

Влияние низкотемпературного отжига на структуру и механические свойства субмикрокристаллического никеля; Перспективные материалы; № 12
Publié: (2011)

Влияние методов измельчения структуры на распределение по размерам и энергию внутренних границ раздела стали 12ГБА; Материалы и технологии новых поколений в современном материаловедении
par: Шумакова Д. А.
Publié: (2016)

Distribution Functions for Internal Interface Energy as a Characteristic of Submicrocrystalline Copper Structure Evolution under Low-Temperature Annealing; AIP Conference Proceedings; Vol. 1683 : Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures
Publié: (2015)

Справочник по микроскопии для нанотехнологии: пер. с англ.
Publié: (Москва, Научный мир, 2011)

Сканирующая туннельная микроскопии структуры покрытий с наночастицами карбонитридов титана и их свойства; Перспективные материалы с иерархической структурой для новых технологий и надежных конструкций
Publié: (2017)

Физические методы в исследованиях осаждения и коррозии металлов учебное пособие
par: Виноградова С. С.
Publié: (Казань, КНИТУ, 2014)

Методы исследования материалов и процессов: учебное пособие для вузов
par: Конюхов В. Ю. Валерий Юрьевич
Publié: (Москва, Юрайт, 2019)

Наноматериалы, наноструктуры, нанотехнологии
par: Гусев А. И. Александр Иванович
Publié: (Москва, Физматлит, 2009)

Quantitative Characterization of Ultrafine Grained 12GBA Steel with Scanning Tunnel Microscopy; AIP Conference Proceedings; Vol. 1783 : Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures 2016
Publié: (2016)

Т. 2; Справочник Шпрингера по нанотехнологиям
Publié: (2010)

Сканирующая туннельная микроскопия подложки из стали 09Г2С после испытания на ударную вязкость в составе композиции "подложка-покрытие" и ее механические свойства; Иерархические материалы: разработка и приложения для новых технологий и надежных конструкций
par: Панин В. Е. Виктор Евгеньевич
Publié: (2019)

Количественная характеристика ультрамелкозернистой структуры стали 12ГБА с помощью сканирующей туннельной микроскопии; Перспективные материалы с иерархической структурой для новых технологий и надежных конструкций
Publié: (2016)

Наноматериалы и нанотехнологии учебное пособие
par: Кирчанов В. С.
Publié: (Пермь, ПНИПУ, 2016)

Микроскопические методы исследования материалов
par: Кларк Э. Р.
Publié: (Москва, Техносфера, 2007)

Scanning Tunnel Microscopy of Coatings with Titan Carbonitride Nanoparticles and Their Properties; AIP Conference Proceedings; Vol. 1909 : Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures 2017 (AMHS’17)
Publié: (2017)

Изучение процесса окисления на поверхности Pt3Ti (510) методом сканирующей туннельной микроскопии; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 308, № 1
par: Курзина И. А.
Publié: (2005)

Влияние низкотемпературного отжига на взаимодействие водорода с субмикрокристаллическим никелем при электролитическом насыщении; Физика и химия обработки материалов; № 2
Publié: (2014)

Влияние отжига на зеренно-субзеренную структуру и механические свойства субмикрокристаллического никеля; Деформация и разрушение материалов; № 1
Publié: (2012)

Применение сканирующей туннельной микроскопии для характеристики зеренно-субзеренной структуры СМК никеля после низкотемпературного отжига; Заводская лаборатория. Диагностика материалов; Т. 78, № 4
Publié: (2012)

Методы диагностики и анализа микро- и наносистем учебное пособие
par: Лачинов А. Н.
Publié: (Уфа, БГПУ имени М. Акмуллы, 2013)

Принципы электронной туннельной спектроскопии
par: Вольф Е. Л.
Publié: (Киев, Наук. думка, 1990)

Инженерные основы измерений нанометровой точности: пер. с англ.
par: Лич Р. К. Ричард К.
Publié: (Долгопрудный, Интеллект, 2012)

Research of reactive ion and plasma-chemical etching effect on diamond coating surface morphology; AIP Conference Proceedings; Vol. 1772 : Prospects of Fundamental Sciences Development (PFSD-2016)
par: Okhotnikov V. V. Vitaly Vladimirovich
Publié: (2016)

STM"86: proceedings of the first international Conference on Scanning Tunneling Microscopy.Santiago de Compostela, Spain, 14-18 July 1986
Publié: (Amsterdam, North-Holland, 1987)

Анализ и обработка АСМ-изображений анодного оксида алюминия; Перспективы развития фундаментальных наук; Т. 1 : Физика
par: Гришанков А. А.
Publié: (2021)

Температурные зависимости запрещенной зоны [Bi2, Te3 и Sb2Te3], полученные методом туннельной спектроскопии; Журнал экспериментальной и теоретической физики; Т. 124, вып. 6
Publié: (2003)

Фотолюминесценция полупроводниковых гетероструктур ALGAN / INGAN / GANс возбуждением импульсной Хе-лампой; Высокие технологии в современной науке и технике (ВТСНТ-2016)
par: Сычева А. В.
Publié: (2016)

Электрический потенциал и топография поверхности кальций-фосфатного покрытия, полученного в плазме ВЧ-разряда; Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования; № 2
Publié: (2020)

Основы сканирующей зондовой микроскопии: учебное пособие
par: Миронов В. Л.
Publié: (Москва, Техносфера, 2004)

Strain Localization of Commercially Pure Titanium Subjected to Ultrasonic Impact Treatment Followed by Uniaxial Tension; AIP Conference Proceedings; Vol. 1783 : Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures 2016
Publié: (2016)

Функциональные наноматериалы: учебное пособие для вузов
par: Елисеев А. А. Андрей Анатольевич
Publié: (Москва, Физматлит, 2010)

Синтез и исследование свойств тонких углеродных пленок, полученных методом осаждения в плазме CH4 и последующей термообработкой: диссертация на соискание ученой степени кандидата технических наук; спец. 1.3.8
par: Прокопьев А. Р. Айсен Русланович
Publié: (Якутск, 2023)

Синтез и исследование свойств тонких углеродных пленок, полученных методом осаждения в плазме CH4 и последующей термообработкой: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук; спец. 1.3.8
par: Прокопьев А. Р. Айсен Русланович
Publié: (Томск, 2023)

Диагностика нанопорошков и наноматериалов: учебное пособие
Publié: (Томск, Дельтаплан, 2022)

Визуализация локализованной деформации при трении; Физическая мезомеханика; Т. 8, № 2
par: Тарасов С. Ю. Сергей Юльевич
Publié: (2005)