Влияние параметров сотовой конструкции на выявляемость дефектов при контроле импедансным методом; Техническая диагностика и неразрушающий контроль; № 3
| Parent link: | Техническая диагностика и неразрушающий контроль: научно-технический и производственный журнал/ Национальная академия наук Украины (НАНУ), Институт электросварки им. Е. О. Патона (ИЭС) ; Международная ассоциация "Сварка".— , 1990-1993, 2001-.— 0235-3474 № 3.— 2006.— С. 48-51 |
|---|---|
| 1. Verfasser: | |
| Weitere Verfasser: | |
| Sprache: | Russisch |
| Veröffentlicht: |
2006
|
| Schriftenreihe: | Неразрушающий контроль |
| Schlagworte: | |
| Format: | Buchkapitel |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=402289 |
| Keine Beschreibung verfügbar. |