Бызов В. Ю., Покладов А. А., & Рыльский В. Е. (2006). Тенденции развития специализированных дефектоскопов; В мире неразрушающего контроля; № 2. 2006.
Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)Бызов В. Ю., Покладов А. А., и Рыльский В. Е. Тенденции развития специализированных дефектоскопов; В мире неразрушающего контроля; № 2. 2006, 2006.
Цитирование MLA (9-е изд.)Бызов В. Ю., et al. Тенденции развития специализированных дефектоскопов; В мире неразрушающего контроля; № 2. 2006, 2006.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.