Формирование микродефектной структуры полупроводникового кремния

Detalles Bibliográficos
Parent link:	Наукоемкие технологии: научно-технический журнал.— , 2001- № 6.— 2004.— С. 8-14
Autor principal:	Таланин В. И.
Otros Autores:	Таланин И. Е., Левинзон Д. И.
Lenguaje:	ruso
Publicado:	2004
Colección:	Новые материалы и технологии формирования их свойств
Materias:	полупроводниковый кремний микродефектные структуры формирование просвечивающая электронная микроскопия метод Чохральского вакансионный режим
Formato:	Capítulo de libro
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=395654

Descripción
Descripción no disponible.

Ejemplares similares