Надеев А. И., Юсупов Р. А., Свечников Ю. К., & Юсупов Д. Р. (2004). Математическая модель эксплутационной надежности интеллектуальных датчиков; Измерительная техника; № 1. 2004.
Chicago Style (17th ed.) CitationНадеев А. И., Юсупов Р. А., Свечников Ю. К., and Юсупов Д. Р. Математическая модель эксплутационной надежности интеллектуальных датчиков; Измерительная техника; № 1. 2004, 2004.
MLA (9th ed.) CitationНадеев А. И., et al. Математическая модель эксплутационной надежности интеллектуальных датчиков; Измерительная техника; № 1. 2004, 2004.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.