Надеев А. И., Юсупов Р. А., Свечников Ю. К., & Юсупов Д. Р. (2004). Математическая модель эксплутационной надежности интеллектуальных датчиков. 2004.
Chicago Style (17th ed.) CitationНадеев А. И., Юсупов Р. А., Свечников Ю. К., and Юсупов Д. Р. Математическая модель эксплутационной надежности интеллектуальных датчиков. 2004, 2004.
ציטוט MLAНадеев А. И., et al. Математическая модель эксплутационной надежности интеллектуальных датчиков. 2004, 2004.
אזהרה: ציטוטים אלה לעיתים לא מדויקים ב 100%.