Иванчура В. А. (2003). Косвенные методы определения метрологических характеристик сеймопреобразователей; Измерительная техника; № 4. 2003.
Chicago Style (17th ed.) CitationИванчура В. А. Косвенные методы определения метрологических характеристик сеймопреобразователей; Измерительная техника; № 4. 2003, 2003.
MLA (9th ed.) CitationИванчура В. А. Косвенные методы определения метрологических характеристик сеймопреобразователей; Измерительная техника; № 4. 2003, 2003.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.