APA-viite (7. p.)

Иванчура В. А. (2003). Косвенные методы определения метрологических характеристик сеймопреобразователей; Измерительная техника; № 4. 2003.

Chicago-viite (17. p.)

Иванчура В. А. Косвенные методы определения метрологических характеристик сеймопреобразователей; Измерительная техника; № 4. 2003, 2003.

MLA-viite (9. p.)

Иванчура В. А. Косвенные методы определения метрологических характеристик сеймопреобразователей; Измерительная техника; № 4. 2003, 2003.

Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.