К вопросу о точности измерения эквивалентного дефекта при использовании ард-диаграмм; Техническая диагностика и неразрушающий контроль; № 2
| Parent link: | Техническая диагностика и неразрушающий контроль: научно-технический и производственный журнал/ Национальная академия наук Украины (НАНУ), Институт электросварки им. Е. О. Патона (ИЭС) ; Международная ассоциация "Сварка".— , 1990-1993, 2001-.— 0235-3474 № 2.— 2003.— С. 27-31 |
|---|---|
| 主要作者: | |
| 语言: | 俄语 |
| 出版: |
2003
|
| 丛编: | Неразрушающий контроль |
| 主题: | |
| 格式: | 本书章节 |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=386751 |