Иванов В. С., Котюк А. Ф., Саприцкий В. И., & Столяревский Р. И. (2002). Концептуальные основы обеспечения единства и повышения точности измерений в современой объективной фотометрии; Измерительная техника; № 2. 2002.
Cita Chicago (17th ed.)Иванов В. С., Котюк А. Ф., Саприцкий В. И., i Столяревский Р. И. Концептуальные основы обеспечения единства и повышения точности измерений в современой объективной фотометрии; Измерительная техника; № 2. 2002, 2002.
Cita MLA (9th ed.)Иванов В. С., et al. Концептуальные основы обеспечения единства и повышения точности измерений в современой объективной фотометрии; Измерительная техника; № 2. 2002, 2002.
Atenció: Aquestes cites poden no estar 100% correctes.