Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Афанасьев А. М. Александр Михайлович
מחברים אחרים: Александров П. А. Петр Анатольевич, Имамов Р. М. Рафик Мамедович
סיכום:Рез.: англ.
שפה:רוסית
יצא לאור: Москва, Наука, 1989
נושאים:
פורמט: ספר
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=376279

MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 376279
005 20231102012815.0
010 |a 5020140201 
020 |a RU  |b 89-72742 
035 |a (RuTPU)RU\TPU\retro\33719 
035 |a RU\TPU\book\227847 
090 |a 376279 
100 |a 20221222d1989 k a0rusy5003 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев  |f А. М. Афанасьев, П. А. Александров, Р. М. Имамов 
210 |a Москва  |c Наука  |d 1989 
215 |a 151,[1] с.  |c ил.  |d 22 см 
300 |a Рез.: англ. 
320 |a Библиогр.: с. 146-151. (226 назв.) 
606 1 |a Рентгеновские лучи  |x Дифракция  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\25075  |9 49312 
606 1 |a Кристаллы  |x Рентгенографический анализ  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\16392  |9 42456 
610 1 |a дифракция 
675 |a 539.26  |z rus 
675 |a 548.73  |z rus 
700 1 |a Афанасьев  |b А. М.  |g Александр Михайлович  |4 070 
701 1 |a Александров  |b П. А.  |g Петр Анатольевич 
701 1 |a Имамов  |b Р. М.  |g Рафик Мамедович 
801 0 |a RU  |b RuMRKP  |c 19950417  |g psbo 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20120204 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20221222  |g RCR 
942 |c BK