MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 368939
005 20231102012131.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\retro\26321 
090 |a 368939 
100 |a 20220425d1980 km y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Дефекты в кристаллах и их моделирование на ЭВМ  |f Академия наук СССР, Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе ; отв. ред. Ю. А. Осипьян 
210 |a Ленинград  |c Наука  |d 1980 
215 |a 212 с.  |c ил. 
320 |a Библиогр. в конце ст. 
606 1 |a Кристаллы  |x Дефекты точечные  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\16365  |9 42448 
610 1 |a моделирование 
610 1 |a применение 
610 1 |a ЭВМ 
610 1 |a атомные структуры 
610 1 |a физическое материаловедение 
610 1 |a дислокации 
610 1 |a радиационные дефекты 
610 1 |a машинное моделирование 
675 |a 548.4  |v 4 
702 1 |a Осипьян  |b Ю. А.  |4 340 
712 0 2 |a Академия наук СССР  |b Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе  |c (Ленинград)  |c (19??-1991)  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\12056  |9 25332 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20220425 
942 |c BK