Дефекты в кристаллах и их моделирование на ЭВМ

Bibliographic Details
Corporate Author:	Академия наук СССР Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе
Other Authors:	Осипьян Ю. А. (340)
Language:	Russian
Published:	Ленинград, Наука, 1980
Subjects:	моделирование применение ЭВМ атомные структуры физическое материаловедение дислокации радиационные дефекты машинное моделирование
Format:	Book
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=368939

Description
Physical Description:	212 с. ил.

Similar Items