Контроль в технологии микроэлектроники

書誌詳細
第一著者:	Колешко В. М. Владимир Михайлович
団体著者:	Академия наук Белорусской ССР Институт электроники
その他の著者:	Гойденко П. П. Петр Петрович, Буйко Л. Д. Лев Дмитриевич
言語:	ロシア語
出版事項:	Минск, Наука и техника, 1979
主題:	Микроэлектроника технология изготовление полупроводниковая электроника параметры контроль МДП-структуры поверхностные слои качество интегральные микросхемы автоматический контроль
フォーマット:	図書
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=366259

類似資料