MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 366259
005 20231102011850.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\retro\23622 
090 |a 366259 
100 |a 20220203d1979 m y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a BY 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Контроль в технологии микроэлектроники  |f В. М. Колешко, П. П. Гойденко, Л. Д. Буйко  |g Академия наук Белорусской ССР, Институт электроники 
210 |a Минск  |c Наука и техника  |d 1979 
215 |a 312 с.  |c ил. 
320 |a Библиогр.: с. 293-310 
606 1 |a Микроэлектроника  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\43811  |9 63253 
610 1 |a технология 
610 1 |a изготовление 
610 1 |a полупроводниковая электроника 
610 1 |a параметры 
610 1 |a контроль 
610 1 |a МДП-структуры 
610 1 |a поверхностные слои 
610 1 |a качество 
610 1 |a интегральные микросхемы 
610 1 |a автоматический контроль 
675 |a 621.382.049.77  |v 4 
700 1 |a Колешко  |b В. М.  |g Владимир Михайлович 
701 1 |a Гойденко  |b П. П.  |g Петр Петрович 
701 1 |a Буйко  |b Л. Д.  |g Лев Дмитриевич 
712 0 2 |a Академия наук Белорусской ССР  |b Институт электроники  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\7643  |9 24355 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20220203 
942 |c BK