Физические методы исследования поверхности твердых тел

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας:	Нефедов В. И. Вадим Иванович
Άλλοι συγγραφείς:	Черепин В. Т. Валентин Тихонович
Γλώσσα:	Ρωσικά
Έκδοση:	Москва, Наука, 1983
Σειρά:	Физика, химия и механика поверхности
Θέματα:	физика твердые тела исследование спектроскопия применение масс-спектрометры
Μορφή:	Βιβλίο
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=36047

MARC


LEADER	00000nam0a2200000 4500
001	36047
005	20231031000948.0
035			\|a (RuTPU)RU\TPU\book\36508
035			\|a BOOK00003160
090			\|a 36047
100			\|a 20011210d1983 km y0rusy50 ca
101	0		\|a rus
102			\|a RU
105			\|a a z 000zy
200	1		\|a Физические методы исследования поверхности твердых тел \|f В. И. Нефедов, В. Т. Черепин
210			\|a Москва \|c Наука \|d 1983
215			\|a 296 с. \|c ил.
225	1		\|a Физика, химия и механика поверхности
610	1		\|a физика
610	1		\|a твердые тела
610	1		\|a исследование
610	1		\|a спектроскопия
610	1		\|a применение
610	1		\|a масс-спектрометры
675			\|a 539.211 \|v 3
700		1	\|a Нефедов \|b В. И. \|g Вадим Иванович
701		1	\|a Черепин \|b В. Т. \|g Валентин Тихонович
801		0	\|a RU \|b 63413507 \|c 20011210 \|g PSBO
801		2	\|a RU \|b 63413507 \|c 20140930 \|g PSBO
900			\|a Основы анализа поверхности твердых тел и тонких пленок
942			\|c BK