|
|
|
|
| LEADER |
00000nam0a2200000 4500 |
| 001 |
348702 |
| 005 |
20231101035941.0 |
| 035 |
|
|
|a (RuTPU)RU\TPU\retro\502
|
| 090 |
|
|
|a 348702
|
| 100 |
|
|
|a 20180312d1969 km y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
|
|a rus
|
| 102 |
|
|
|a LV
|
| 105 |
|
|
|a a z 101zy
|
| 200 |
1 |
|
|a Автоматизация измерений параметров полупроводниковых приборов
|e [сборник]
|f Академия наук Латвийской ССР (АН ЛатССР), Институт электроники и вычислительной техники (ИЭиВТ) ; отв.ред. Ю. С. Карп
|
| 210 |
|
|
|a Рига
|c Зинатне
|d 1969
|
| 215 |
|
|
|a 235 с.
|c ил.
|
| 320 |
|
|
|a Библиография в конце статей
|
| 333 |
|
|
|a Исключено из фонда НТБ ТПУ
|
| 675 |
|
|
|a 621.382.08
|v 4
|
| 702 |
|
1 |
|a Карп
|b Ю. С.
|4 340
|
| 712 |
0 |
2 |
|a Академия наук Латвийской ССР (АН ЛатССР)
|b Институт электроники и вычислительной техники (ИЭиВТ)
|2 stltpush
|3 (RuTPU)RU\TPU\col\6601
|
| 712 |
1 |
2 |
|a Методы автоматического определения параметров полупроводниковых приборов
|c Конференция
|e Рига
|f 1966 г.
|4 570
|
| 801 |
|
1 |
|a RU
|b 63413507
|c 20180312
|
| 801 |
|
2 |
|a RU
|b 63413507
|c 20230119
|g RCR
|
| 942 |
|
|
|c BK
|
