Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов учебное пособие для академического бакалавриата - Суворов Э. В. Эрнест Витальевич (Бакалавр. Академический курс)
В пособии рассмотрены физические основы теории дифракции, основные методы рентгеновской дифракционной топографии, высоко разрешающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа. В конце каждой главы приводятся контрольные вопросы и задания, а также рекомендуемая литература. В конце пособия помещен ряд приложений, в которых приводятся сведения, необходимые для успешного овладения изучаемой дисциплиной.