|
|
|
|
| LEADER |
00000nam0a2200000 4500 |
| 001 |
341709 |
| 005 |
20231102005356.0 |
| 010 |
|
|
|a 9785534060119
|
| 035 |
|
|
|a (RuTPU)RU\TPU\book\369939
|
| 090 |
|
|
|a 341709
|
| 100 |
|
|
|a 20181019d2019 m y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
|
|a rus
|
| 102 |
|
|
|a RU
|
| 105 |
|
|
|a a j 001zy
|
| 200 |
1 |
|
|a Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов
|e учебное пособие для академического бакалавриата
|f Э. В. Суворов
|
| 205 |
|
|
|a 2-е изд., перераб. и доп.
|
| 210 |
|
|
|a Москва
|c Юрайт
|d 2019
|
| 215 |
|
|
|a 180 с.
|c ил.
|
| 225 |
1 |
|
|a Бакалавр. Академический курс
|
| 320 |
|
|
|a Библиогр.: с. 149-151
|
| 330 |
|
|
|a В пособии рассмотрены физические основы теории дифракции, основные методы рентгеновской дифракционной топографии, высоко разрешающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа. В конце каждой главы приводятся контрольные вопросы и задания, а также рекомендуемая литература. В конце пособия помещен ряд приложений, в которых приводятся сведения, необходимые для успешного овладения изучаемой дисциплиной.
|
| 606 |
1 |
|
|a Материалы
|x Испытание
|x Неразрушающие методы
|2 stltpush
|3 (RuTPU)RU\TPU\subj\41263
|9 61067
|
| 610 |
1 |
|
|a дифракция
|
| 610 |
1 |
|
|a трехмерные периодические структуры
|
| 610 |
1 |
|
|a теория рассеяния
|
| 610 |
1 |
|
|a рентгеновская дифракционная микроскопия
|
| 610 |
1 |
|
|a рентгеновская топография
|
| 610 |
1 |
|
|a дефекты
|
| 610 |
1 |
|
|a электронная микроскопия высокого разрешения
|
| 610 |
1 |
|
|a растровая электронная микроскопия
|
| 610 |
1 |
|
|a рентгеновский микроанализ
|
| 610 |
1 |
|
|a материаловедение
|
| 610 |
1 |
|
|a учебные пособия
|
| 675 |
|
|
|a 620.179(075.8)
|v 4
|
| 700 |
|
1 |
|a Суворов
|b Э. В.
|g Эрнест Витальевич
|
| 801 |
|
1 |
|a RU
|b 63413507
|c 20181019
|
| 801 |
|
2 |
|a RU
|b 63413507
|c 20190619
|g RCR
|
| 942 |
|
|
|c BK
|
| 959 |
|
|
|a 2/20180221
|d 1
|e 479,00
|f ЧЗТЛ:1
|
