Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов: учебное пособие для академического бакалавриата
| 主要作者: | |
|---|---|
| 總結: | В пособии рассмотрены физические основы теории дифракции, основные методы рентгеновской дифракционной топографии, высоко разрешающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа. В конце каждой главы приводятся контрольные вопросы и задания, а также рекомендуемая литература. В конце пособия помещен ряд приложений, в которых приводятся сведения, необходимые для успешного овладения изучаемой дисциплиной. |
| 語言: | 俄语 |
| 出版: |
Москва, Юрайт, 2019
|
| 版: | 2-е изд., перераб. и доп. |
| 叢編: | Бакалавр. Академический курс |
| 主題: | |
| 格式: | 圖書 |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=341709 |
| 實物描述: | 180 с. ил. |
|---|---|
| 總結: | В пособии рассмотрены физические основы теории дифракции, основные методы рентгеновской дифракционной топографии, высоко разрешающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа. В конце каждой главы приводятся контрольные вопросы и задания, а также рекомендуемая литература. В конце пособия помещен ряд приложений, в которых приводятся сведения, необходимые для успешного овладения изучаемой дисциплиной. |
| ISBN: | 9785534060119 |