Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов: монография
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | , |
| Shrnutí: | В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров. Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям "Радиотехника", "Инфокоммуникационные технологии и системы связи", "Конструирование и технология электронных средств", "Электроника и наноэлектроника", "Электроэнергетика и электротехника" (уровень магистратура), аспирантам направлений "Электроника, радиотехника и системы связи", "Электро- и теплотехника". |
| Jazyk: | ruština |
| Vydáno: |
Санкт-Петербург, Лань, 2018
|
| Edice: | Магистратура и аспирантура Учебники для вузов. Специальная литература |
| Témata: | |
| Médium: | Kniha |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=341641 |