Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов: монография

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Дракин А. Ю. Александр Юрьевич
Otros Autores: Зотин В. Ф. Виталий Федорович, Потапов Л. А. Леонид Алексеевич
Sumario:В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров. Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям "Радиотехника", "Инфокоммуникационные технологии и системы связи", "Конструирование и технология электронных средств", "Электроника и наноэлектроника", "Электроэнергетика и электротехника" (уровень магистратура), аспирантам направлений "Электроника, радиотехника и системы связи", "Электро- и теплотехника".
Lenguaje:ruso
Publicado: Санкт-Петербург, Лань, 2018
Colección:Магистратура и аспирантура
Учебники для вузов. Специальная литература
Materias:
Formato: Libro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=341641

MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 341641
005 20231102005352.0
010 |a 9785811433124 
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\369860 
090 |a 341641 
100 |a 20181017d2018 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов  |e монография  |f А. Ю. Дракин, В. Ф. Зотин, Л. А. Потапов 
210 |a Санкт-Петербург  |c Лань  |d 2018 
215 |a 283 с.  |c ил. 
225 1 |a Магистратура и аспирантура 
225 1 |a Учебники для вузов. Специальная литература 
320 |a Библиогр.: с. 272-279 
330 |a В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров. Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям "Радиотехника", "Инфокоммуникационные технологии и системы связи", "Конструирование и технология электронных средств", "Электроника и наноэлектроника", "Электроэнергетика и электротехника" (уровень магистратура), аспирантам направлений "Электроника, радиотехника и системы связи", "Электро- и теплотехника". 
606 1 |a Полупроводниковые приборы  |x Испытание  |x Исследование  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\50691  |9 69342 
610 1 |a качество 
610 1 |a контроль 
610 1 |a методы 
610 1 |a аналоговые микросхемы 
610 1 |a силовые диоды 
610 1 |a силовые транзисторы 
610 1 |a неэлектрические параметры 
610 1 |a определение 
610 1 |a оборудование 
610 1 |a электрические параметры 
610 1 |a тестирование 
610 1 |a промышленное оборудование 
610 1 |a импортные тестеры 
610 1 |a монографии 
675 |a 621.382.001  |v 4 
700 1 |a Дракин  |b А. Ю.  |g Александр Юрьевич 
701 1 |a Зотин  |b В. Ф.  |g Виталий Федорович 
701 1 |a Потапов  |b Л. А.  |g Леонид Алексеевич 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20181017 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20191211  |g RCR 
942 |c BK 
959 |a 1/20180221  |d 1  |e 850,00  |f ЧЗТЛ:1