A complex of spectrochemical, mass-spectrometric and atomic-absorption methods for the analysis of thin layers of gallium arsenide and silicon semiconductors: [offprint]
| Главный автор: | |
|---|---|
| Другие авторы: | |
| Язык: | английский |
| Опубликовано: |
Vienna, Springer-Verlag, 1978
|
| Серии: | Mikrochimica Acta № 1, 1978 |
| Предметы: | |
| Формат: | Книга |
| Запись в KOHA: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=335673 |