• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Pokročilé
  • Вып. 18
  • Vytvořit citaci
  • Zaslat SMS
  • Poslat e-mailem
  • Vytisknout
  • Exportovat záznam
    • Exportovat do RefWorks
    • Exportovat do EndNoteWeb
    • Exportovat do EndNote
  • Trvalý odkaz
Export byl úspěšný — 
Вып. 18

Вып. 18

Podrobná bibliografie
Parent link:Диэлектрики и полупроводники: республиканский межведомственный научно-технический сборник/ Киевский политехнический институт (КПИ). Вып. 18.— , 1971-1992
Další autoři: Калниболотский Ю. М. Юрий Максимович (340)
Jazyk:ruština
Vydáno: 1980
Témata:
применение
электронная техника
интегральные схемы
диэлектрические характеристики
измерения
электронные схемы
омические контакты
кремниевые структуры
прочность
магнитоэлектрическая вибрация
стеклообразные полупроводники
электрическая неустойчивость
термические токи
щелочно-галоидные кристаллы
радиационные дефекты
накопление
Médium: Kniha
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=334549
  • Jednotky
  • Popis
  • Podobné jednotky
  • UNIMARC/MARC

Podobné jednotky

  • Вып. 13
    Vydáno: (1978)
  • Вып. 17
    Vydáno: (1980)
  • Глубокие уровни в полупроводниках сборник статей
    Vydáno: (Ташкент, Изд-во ТашГУ, 1981)
  • Вып. 15
    Vydáno: (1979)
  • Вып. 9
    Vydáno: (1976)