Практика электронной микроскопии. Методы препарирования

Практика электронной микроскопии. Методы препарирования

Detalles Bibliográficos
Autor Principal:	Пилянкевич А. Н. Александр Николаевич
Idioma:	ruso
Publicado:	Москва, Машгиз, 1961
Subjects:	Электронные микроскопы исследование методы пленки отпечатки контраст образцы металлы сплавы микрофрактография
Formato:	Libro
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=317226

Títulos similares

Техника электронной микроскопии: пер. с англ.
Publicado: (Москва, Мир, 1965)

Окно в невидимое (электронный микроскоп)
por: Кушнир Ю. М.
Publicado: (Молотов, Молотовское областное издательство, 1949)

Окно в невидимое (электронный микроскоп)
por: Кушнир Ю. М.
Publicado: (Москва, ОГИЗ, 1947)

Применение электронной микроскопии в современной технике: тезисы докладов симпозиума
Publicado: (Москва, [Б. и.], 1978)

Электронный микроскоп
por: Клементьев С. Д.
Publicado: (Москва, Изд-во технико-теоретической литературы, 1953)

Основы электронной микроскопии: учебное пособие для вузов
por: Бушнев Л. С. Лев Сергеевич
Publicado: (Томск, Изд-во Том. ун-та, 1990)

Методика электронной микроскопии: пер. с нем.
por: Шиммель Г. Герхард
Publicado: (Москва, Мир, 1972)

Электронная микроскопия минералов. Аппаратура, методы исследования и техника препарирования
por: Грицаенко Г. С. Галина Савиновна
Publicado: (Москва, Изд-во АН СССР, 1961)

Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию: пер. с англ.
por: Эгертон Р. Ф. Рэй Ф.
Publicado: (Москва, Техносфера, 2010)

Металлографические исследования при помощи электронного микроскопа: статья
por: Барретт Ч.
Publicado: (Москва, [1944])

Новые методы структурных исследований металлов и сплавов: материалы семинара
Publicado: (Москва, МДНТП, 1982)

Исследование ультрадисперсного αC(3)N(4) методом просвечивающей электронной микроскопии; Современные техника и технологии; Т. 3
por: Пак А. Я. Александр Яковлевич
Publicado: (2011)

Основы сканирующей зондовой микроскопии: учебное пособие
por: Миронов В. Л.
Publicado: (Москва, Техносфера, 2004)

Электронная микроскопия тонких кристаллов: пер. с англ.
Publicado: (Москва, Мир, 1968)

Исследование полупроводниковых пленок CU2S методами атомно-силовой микроскопии; Современное материаловедение: материалы и технологии новых поколений
por: Дронова М. В.
Publicado: (2014)

Введение в просвечивающую электронную микроскопию твердых тел и биологических объектов: [учебное пособие]
por: Хатанова Н. А. Нина Абдуловна
Publicado: (Москва, Изд-во Московского ун-та, 1983)

Электронный замок с датчиком отпечатка пальцев "Touch Lock"; Молодежь и современные информационные технологии; Т. 1
por: Курилова А. Д.
Publicado: (2014)

Электронный замок с датчиком отпечатков пальцев; Ресурсоэффективным технологиям - энергию и энтузиазм молодых
Publicado: (2014)

Исследование структуры материала в местах формирования "шейки" и разрушения образцов поликристаллического Al; Современные техника и технологии; Т. 2
Publicado: (2009)

Твердые сплавы: [сборник]
Publicado: (Москва, Металлургия, 1964)

Твердые сплавы: [сборник]
Publicado: (Москва, Металлургия, 1965)

Твердые сплавы: [сборник]
Publicado: (Москва, Металлургиздат, 1962)

Способы оценки площади оптической неоднородности на плоском изделии на основе анализа фотоизображений; Качество - стратегия XXI века
por: Осипов О. С. Олег Сергеевич
Publicado: (2014)

Твердые сплавы: [сборник]
Publicado: (Москва, Металлургия, 1967)

Твердые сплавы: [сборник]
Publicado: (Москва, Металлургия, 1969)

Твердые сплавы: [сборник]
Publicado: (Москва, Металлургия, 1969)

Твердые сплавы: [сборник]
Publicado: (Москва, Металлургия, 1970)

Просвечивающая электронная микроскопия
por: Пилянкевич А. Н. Александр Николаевич
Publicado: (Киев, Наукова думка, 1975)

Способ оценки площади оптической неоднородности на основе анализа цифровых изображений; Вестник Томского государственного архитектурно-строительного университета; № 3 (50)
Publicado: (2015)

Практика тепловой микроскопии
Publicado: (Москва, Наука, 1976)

Метод оценки толщины ультратонких плёнок; Приборы и техника эксперимента; № 3
por: Стогний А. И.
Publicado: (2003)

Распознавание отпечатков пальцев с использованием нейронной сети; Ресурсоэффективным технологиям - энергию и энтузиазм молодых
por: Кулманакова Е. В.
Publicado: (2010)

Руководство по дисперсионному анализу методом микроскопии
por: Градус Л. Я. Лернид Яковлевич
Publicado: (Москва, Химия, 1979)

Возможности электронного микроскопа для решения минералогических и петрографических задач; Проблемы геологии и освоения недр
por: Анищук Н. К.
Publicado: (2009)

Определение степени покрытия отпечатками дроби поверхности при дробеобработке; Справочник. Инженерный журнал; № 2
por: Матлин М. М.
Publicado: (2005)

Аналитическая вторично-электронная эмиссиометрия
por: Томашпольский Ю. Я. Юрий Яковлевич
Publicado: (Москва, Научный мир, 2006)

Влияние высокотемпературного воздействия на структуру никелевого сплава; Перспективы развития фундаментальных наук; Т. 1 : Физика
por: Никоненко А. В.
Publicado: (2018)

Успехи современной микроскопии
por: Гайдуков Н.
Publicado: (Харьков, Типография "Мирный Труд", 1910)

Контроллеры серии КОНТРАСТ. Котельная автоматика; Промышленные АСУ и контроллеры; № 9
Publicado: (2004)

Применение "ядерных отпечатков" для установления принадлежности контрабандных делящихся материалов; Современные техника и технологии; Т. 3
por: Девочкин А. А. Андрей Александрович
Publicado: (2009)