MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 316870
005 20231102002922.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\342338 
090 |a 316870 
100 |a 20160331d1982 km y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Оптические методы контроля интегральных микросхем: Состояние и перспективы совершенствования  |f Ю. С. Вартанян [и др.]  |g под ред. Л. Г. Дубицкого 
210 |a Москва  |c Радио и связь  |d 1982 
215 |a 136 с.  |c ил. 
225 1 |a Массовая библиотека инженера "Электроника"  |v Вып. 32 
320 |a Библиогр.: с. 126-133 
606 1 |a Микроэлектронные схемы интегральные  |x Производство  |x Технический контроль  |x Оптические методы  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\43841  |9 63282 
610 1 |a оптическая информация 
610 1 |a обработка 
610 1 |a дефекты 
610 1 |a готовые изделия 
610 1 |a отбраковка 
610 1 |a микроскопы 
610 1 |a оптическая фильтрация 
610 1 |a автоматическое распознавание 
675 |a 621.382.049.77.002  |v 4 
701 1 |a Вартанян  |b Ю. С. 
701 1 |a Розиньков  |b Н. С. 
701 1 |a Дубицкий  |b Л. Г. 
701 1 |a Поддубный  |b Е. В. 
701 1 |a Закс  |b Д. И. 
702 1 |a Дубицкий  |b Л. Г.  |4 340 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20160331 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20200121  |g RCR 
942 |c BK