Технология конструкционных материалов . Анализ поверхности методами атомной физики, учебное пособие для бакалавриата и магистратуры
| Main Author: | |
|---|---|
| Corporate Author: | |
| Summary: | Пособие посвящено экспериментальным особенностям и теоретическим вопросам анализа свойств поверхности твердых тел и тонких пленок. Рассмотрены механизмы физических явлений, лежащих в основе эмиссионных процессов, при возбуждении поверхности электронными и ионными пучками, температурой и электростатическими полями большой напряженности. Описаны принципы функционирования узлов высоковакуумных аналитических установок (оптика заряженных частиц, энергоанализаторы, масс-анализаторы, электронные и ионные пушки, детекторы частиц и излучений). Соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. |
| Published: |
Москва, Юрайт, 2016
|
| Series: | Университеты России |
| Subjects: | |
| Format: | Book |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=308032 |
| Physical Description: | 203 с. ил. |
|---|---|
| Summary: | Пособие посвящено экспериментальным особенностям и теоретическим вопросам анализа свойств поверхности твердых тел и тонких пленок. Рассмотрены механизмы физических явлений, лежащих в основе эмиссионных процессов, при возбуждении поверхности электронными и ионными пучками, температурой и электростатическими полями большой напряженности. Описаны принципы функционирования узлов высоковакуумных аналитических установок (оптика заряженных частиц, энергоанализаторы, масс-анализаторы, электронные и ионные пушки, детекторы частиц и излучений). Соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. |
| ISBN: | 9785991665285 |