Прикладная метрология в ядерных исследованиях и технологиях - Кушнир Ю. А. Юрий Алексеевич (Димитровград, Изд-во НИИАР, 2014)
Монография содержит описание основных элементов прикладной метрологии, из которых складываются обработка результатов измерений и оценка их погрешности. Так как методы прикладной метрологии основаны на методах математической статистики, в книге приведено краткое описание понятий, терминов и теорем теории вероятностей и математической статистики, наиболее употребительных статистических распределений и их трансформаций, а также проверки статистических гипотез, применяемых в прикладной метрологии.Отдельная глава книги посвящена моделям погрешностей, описанию современной концепции метрологии, в рамках которой понятие погрешности заменяегся понятием неопределённости.Особое внимание уделено подходам к оценке погрешности средств измерений, методик выполнения измерений и методик расчёта.Наряду с традиционными методами математической статистики рассматриваются некоторые специальные методы - кумулятивная сумма и дисперсионный анализ. Завершает книгу описание понятий метрологического обеспечения измерений и статистического контроля погрешности при помощи контрольных карт Шухарта.Книга рассчитана на специалистов, занимающихся измерениями и оценкой их погрешности, и написана на материале курса лекций по прикладной метрологии, которые автор читал в течение ряда лет студентам Димитровградского института технологии, управления и дизайна (филиала Ульяновского государственного технического университета) и слушателям различных обучающих курсов.