• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Advanced
  • Электронно-зондовые методы исс...
  • Cite this
  • Text this
  • Email this
  • Print
  • Export Record
    • Export to RefWorks
    • Export to EndNoteWeb
    • Export to EndNote
  • Permanent link
Электронно-зондовые методы исследования полупроводниковых материалов и приборов

Электронно-зондовые методы исследования полупроводниковых материалов и приборов

Bibliographic Details
Main Author: Конников С. Г. Самуил Гиршевич
Other Authors: Сидоров А. Ф. Александр Федорович
Published: Москва, Энергия, 1978
Subjects:
качественный микроанализ
количественный микроанализ
рентгено-спектральный анализ
эксперименты
чувствительность
локальные исследования
полупроводниковые материалы
фазовые диаграммы
состояние
гетеропереходы
химический состав
полупроводниковые приборы
Format: Book
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=306014
  • Holdings
  • Description
  • Similar Items
  • Staff View
Description
Physical Description:136 с. ил.

Similar Items

  • Handbook of Semiconductor Interconnection Technology
    Published: (New York, Taylor & Francis, 2006)
  • Исследование и применение широкозонных полупроводников и приборов
    Published: (Ленинград, Изд-во ЛЭТИ, 1980)
  • Качественный и количественный ультрамикрохимический анализ
    by: Алимарин И. П. Иван Павлович
    Published: (Москва, Химия, 1974)
  • Вып. 3
    Published: (1983)
  • Вып. 1
    Published: (1982)