MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 305909
005 20231102001839.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\331184 
090 |a 305909 
100 |a 20151001d1975 m y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a j 001zy 
200 1 |a Испытание и исследование полупроводниковых приборов  |e учебное пособие для вузов  |f В. Л. Аронов, Я. А. Федотов 
210 |a Москва  |c Высшая школа  |d 1975 
215 |a 325 с.  |c ил. 
320 |a Библиогр.: с. 320-322 (36 назв.). 
606 1 |a Полупроводниковые приборы  |x Испытание на надежность  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\50680  |9 69331 
606 1 |a Полупроводниковые приборы  |x Параметры  |x Измерение  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\50673  |9 69324 
610 1 |a учебные пособия 
610 1 |a электрические параметры 
610 1 |a оценка погрешности 
610 1 |a статические параметры 
610 1 |a измерения 
610 1 |a эквивалентные схемы 
610 1 |a шумовые параметры 
610 1 |a тепловые характеристики 
610 1 |a надежность 
610 1 |a качество 
675 |a 621.382.01(075.8)  |v 3 
675 |a 621.382.08(075.8)  |v 3 
700 1 |a Аронов  |b В. Л.  |g Вадим Львович 
701 1 |a Федотов  |b Я. А.  |g Яков Андреевич 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20151001 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20180115  |g RCR 
942 |c BK