Эллипсометрия в микроэлектронике

Эллипсометрия в микроэлектронике

Bibliografske podrobnosti
Glavni avtor:	Резвый Р. Р. Ростислав Ростиславович
Jezik:	ruščina
Izdano:	Москва, Радио и связь, 1983
Teme:	микроэлектроника применение физические принципы математическая обработка эллипсометрическое измерения эллипсометры пластины поверхности подготовка полупроводниковые слои
Format:	Knjiga
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=305477

Podobne knjige/članki

Количественная хроматография на бумаге и в тонком слое
od: Шеллард Э.
Izdano: (Москва, Мир, 1971)

Эллипсометрия-метод исследования поверхности
Izdano: (Новосибирск, Наука, 1983)

Лазерная эллипсометрия в технологии электродного производства
od: Стрельников П. А.
Izdano: (2011)

Импульсный двухканальный спектральный эллипсометр с бинарной модуляцией состояния поляризации
od: Ковалев В. И.
Izdano: (2003)

Эллипсометрия в физико-химических исследованиях
od: Пшеницын В. И. Владимир Ильич
Izdano: (Ленинград, Химия, 1986)

Эллипсометрия. Теория. Методы. Приложения сборник научных трудов
Izdano: (Новосибирск, Наука, 1991)

Эллипсометрия: теория, методы, приложения
Izdano: (Новосибирск, Наука, 1987)

Радиоволновая эллипсометрия диэлектрических структур
od: Конев В. А. Владимир Афанасьевич
Izdano: (Минск, Наука и техника, 1989)

Радиоволновая эллипсометрия
od: Конев В. А. Владимир Афанасьевич
Izdano: (Минск, Наука и техника, 1985)

Эллипсометрия и поляризованный свет пер. с англ.
od: Аззам Р.
Izdano: (Москва, Мир, 1981)

Обработка монокристаллов в микроэлектронике
od: Карбань В. И. Валерий Иванович
Izdano: (Москва, Радио и связь, 1988)

Эллипсометрия. Основы метода
od: Урывский Ю. И. Юрий Иванович
Izdano: (Воронеж, Изд-во ВГУ, 1971)

Поликристаллические пленки полупроводников в микроэлектронике
od: Колешко В. М. Владимир Михайлович
Izdano: (Минск, Наука и техника, 1978)

Диэлектрические пленки в твердотельной микроэлектронике
od: Румак Н. В. Николай Владимирович
Izdano: (Минск, Навука i тэхнiка, 1990)

Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике
od: Афонский А. А.
Izdano: (Москва, ДМК Пресс, 2011)

Микрометаллургия в микроэлектронике Принципы технологии в полупроводниковом приборостроении
od: Дорфман В. Ф. Вениамин Фриделевич
Izdano: (Москва, Металлургия, 1978)

Технология обработки поверхностей в микроэлектронике
od: Полтавцев Ю. Г. Юрий Гаврилович
Izdano: (Киев, Тэхника, 1990)

Поверки и исследования теодолитов и нивелиров в полевых условиях
od: Лысов Г. Ф. Герман Федорович
Izdano: (Москва, Недра, 1978)

Современные проблемы эллипсометрии
Izdano: (Новосибирск, Наука, 1980)

Арсенид галлия в микроэлектронике пер. с англ.
Izdano: (Москва, Мир, 1988)

Электронные измерения в нанотехнологиях и в микроэлектронике
od: Афонский А. А.
Izdano: (Москва, ДМК Пресс, 2011)

Нивелиры. Конструкция, сервис, ремонт, эксплуатация практическое пособие
od: Захаров А. И. Анатолий Иванович
Izdano: (Москва, Академический проект, 2010)

Микроэлектроника и схемотехника учебник
od: Параскевов А. В.
Izdano: (Краснодар, КубГАУ, 2019)

Ионное легирование в микроэлектронике учебное пособие для средних профессиональных заведений
od: Грищенко А. Ф. Анатолий Федорович
Izdano: (Москва, Высшая школа, 1985)

Термические процессы в микроэлектронике учебник
od: Моряков О. С. Олег Сергеевич
Izdano: (Москва, Высшая школа, 1987)

Поляризационные измерения
od: Волкова Е. А. Елизавета Алексеевна
Izdano: (Москва, Изд-во стандартов, 1974)

Технология материалов микро- и наноэлектроники
Izdano: (Москва, Изд-во МИСиС, 2007)

Современные технологии в микроэлектронике электронный курс
od: Юрьева А. В. Алена Викторовна
Izdano: (Томск, TPU Moodle, 2014)

Плазменное анодирование: физика, техника, применение в микроэлектронике
od: Пархутик В. П. Виталий Петрович
Izdano: (Минск, Наука и техника, 1990)

Измерения диффузионной длины неосновных носителей заряда в тонких пластинах полупроводниковых кристаллов
od: Болесов И. А.
Izdano: (2003)

Основы метода эллипсометрии и его использование в исследовании биосовместимых покрытий на основе гидроксиапатита
od: Шаронова А. А. Анна Александровна
Izdano: (2012)

Отражательная рефрактометрия
Izdano: (Ленинград, Машиностроение, 1983)

Структурные переходы в кремнии под действием фемтосекундного лазерного импульса: роль электронно-дырочной плазмы и фонон-фононного ангармонизма
od: Кудряшов С. И.
Izdano: (2002)

Точностные расчеты в микроэлектронике
od: Шумилин А. С. Анатолий Семенович
Izdano: (Ленинград, Изд-во Ленинградского ун-та, 1980)

Линейные измерения микрометрового и нанометрового диапазонов в микроэлектронике и нанотехнологии
Izdano: (Москва, Наука, 2006)

Материаловедение в микроэлектронике
od: Палатник Л. С. Лев Самойлович
Izdano: (Москва, Энергия, 1978)

Нанотехнологии в микроэлектронике
Izdano: (Москва, Наука, 2019)

Измерение параметров полупроводников материалов и структур
od: Батавин В. В. Виталий Васильевич
Izdano: (Москва, Радио и связь, 1985)

Исследование оптических характеристик биосовместимых покрытий на основе серебросодержащего гидроксиапатита методом эллипсометрии
od: Проскурин А. А.
Izdano: (2013)

Использование метода спектральной эллипсометрии в исследовании свойств биосовместимых покрытий на основе гидроксиапатита
od: Шаронова А. А. Анна Александровна
Izdano: (2012)