• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Avançada
  • Эллипсометрия в микроэлектрони...
  • Citar
  • Enviar aquest missatge de text
  • Enviar per correu electrònic aquest
  • Imprimir
  • Exportar registre
    • Exportar a RefWorks
    • Exportar a EndNoteWeb
    • Exportar a EndNote
  • Enllaç permanent
Exportació completada — 
Эллипсометрия в микроэлектронике

Эллипсометрия в микроэлектронике

Dades bibliogràfiques
Autor principal: Резвый Р. Р. Ростислав Ростиславович
Idioma:rus
Publicat: Москва, Радио и связь, 1983
Matèries:
Эллипсометрия (в микроэлектронике)
микроэлектроника
применение
физические принципы
математическая обработка
эллипсометрическое измерения
эллипсометры
пластины
поверхности
подготовка
полупроводниковые слои
Format: MixedMaterials Llibre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=305477
  • Fons
  • Descripció
  • Ítems similars
  • Visualització del personal

Ítems similars

  • Количественная хроматография на бумаге и в тонком слое
    per: Шеллард Э.
    Publicat: (Москва, Мир, 1971)
  • Эллипсометрия-метод исследования поверхности
    Publicat: (Новосибирск, Наука, 1983)
  • Импульсный двухканальный спектральный эллипсометр с бинарной модуляцией состояния поляризации; Приборы и техника эксперимента; № 2
    per: Ковалев В. И.
    Publicat: (2003)
  • Эллипсометрия в физико-химических исследованиях
    per: Пшеницын В. И. Владимир Ильич
    Publicat: (Ленинград, Химия, 1986)
  • Эллипсометрия: теория, методы, приложения
    Publicat: (Новосибирск, Наука, 1987)