• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Wyszukiwanie zaawansowane
  • Эллипсометрия в микроэлектрони...
  • Cytować
  • Wyślij wiadomość
  • Wyślij emailem
  • Drukuj
  • Eksportuj rekord
    • Eksportuj do RefWorks
    • Eksportuj do EndNoteWeb
    • Eksportuj do EndNote
  • Odnośnik bezpośredni
Эллипсометрия в микроэлектронике

Эллипсометрия в микроэлектронике

Opis bibliograficzny
1. autor: Резвый Р. Р. Ростислав Ростиславович
Język:rosyjski
Wydane: Москва, Радио и связь, 1983
Hasła przedmiotowe:
микроэлектроника
применение
физические принципы
математическая обработка
эллипсометрическое измерения
эллипсометры
пластины
поверхности
подготовка
полупроводниковые слои
Format: Książka
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=305477
  • Egzemplarz
  • Opis
  • Podobne zapisy
  • Wersja MARC
Opis
Opis fizyczny:120 с. ил.

Podobne zapisy

  • Количественная хроматография на бумаге и в тонком слое
    od: Шеллард Э.
    Wydane: (Москва, Мир, 1971)
  • Эллипсометрия-метод исследования поверхности
    Wydane: (Новосибирск, Наука, 1983)
  • Лазерная эллипсометрия в технологии электродного производства
    od: Стрельников П. А.
    Wydane: (2011)
  • Импульсный двухканальный спектральный эллипсометр с бинарной модуляцией состояния поляризации
    od: Ковалев В. И.
    Wydane: (2003)
  • Эллипсометрия в физико-химических исследованиях
    od: Пшеницын В. И. Владимир Ильич
    Wydane: (Ленинград, Химия, 1986)