• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Uwch
  • Эллипсометрия в микроэлектрони...
  • Dyfynnu hwn
  • Anfonwch hwn fel neges destun
  • E-bostio hwn
  • Argraffu
  • Allforio Cofnod
    • Allforio i RefWorks
    • Allforio i EndNoteWeb
    • Allforio i EndNote
  • Permanent link
Эллипсометрия в микроэлектронике

Эллипсометрия в микроэлектронике

Manylion Llyfryddiaeth
Prif Awdur: Резвый Р. Р. Ростислав Ростиславович
Iaith:Rwseg
Cyhoeddwyd: Москва, Радио и связь, 1983
Pynciau:
Эллипсометрия (в микроэлектронике)
микроэлектроника
применение
физические принципы
математическая обработка
эллипсометрическое измерения
эллипсометры
пластины
поверхности
подготовка
полупроводниковые слои
Fformat: Llyfr
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=305477
  • Daliadau
  • Disgrifiad
  • Eitemau Tebyg
  • Dangos Staff
Disgrifiad
Disgrifiad Corfforoll:120 с. ил.

Eitemau Tebyg

  • Количественная хроматография на бумаге и в тонком слое
    gan: Шеллард Э.
    Cyhoeddwyd: (Москва, Мир, 1971)
  • Эллипсометрия-метод исследования поверхности
    Cyhoeddwyd: (Новосибирск, Наука, 1983)
  • Импульсный двухканальный спектральный эллипсометр с бинарной модуляцией состояния поляризации; Приборы и техника эксперимента; № 2
    gan: Ковалев В. И.
    Cyhoeddwyd: (2003)
  • Эллипсометрия в физико-химических исследованиях
    gan: Пшеницын В. И. Владимир Ильич
    Cyhoeddwyd: (Ленинград, Химия, 1986)
  • Эллипсометрия: теория, методы, приложения
    Cyhoeddwyd: (Новосибирск, Наука, 1987)