• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Розширений
  • Методы исследования структуры...
  • Цитувати
  • Відправити по sms
  • Відправити е-поштою
  • Друк
  • Експортувати запис
    • Екпортувати в RefWorks
    • Екпортувати в EndNoteWeb
    • Екпортувати в EndNote
  • Постійне посилання
Методы исследования структуры полупроводников и металлов: учебное пособие

Методы исследования структуры полупроводников и металлов: учебное пособие

Бібліографічні деталі
Автор: Бублик В. Т. Владимир Тимофеевич
Інші автори: Дубровина А. Н. Анна-Аида Николаевна
Мова:Російська
Опубліковано: Москва, Металлургия, 1978
Предмети:
Полупроводники > Структура
структура
исследование
методы
световые микроскопы
световая микроскопия
рентгеновская дифракция
рентгеноструктурный анализ
нейтроны
электроны
дифракция
электронная микроскопия
учебные пособия
Формат: Книга
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=303151
  • Примірники
  • Опис
  • Схожі ресурси
  • Службовий вигляд

Схожі ресурси

  • Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия: пер. с англ.
    за авторством: Синдо Д Дайзуке
    Опубліковано: (Москва, Техносфера, 2006)
  • Структура и свойства анодных пленок [Al2O3]; Наукоемкие технологии; № 11
    Опубліковано: (2004)
  • Т. 2; Методы в молекулярной биофизике. Структура. Функция. Динамика
    Опубліковано: (2010)
  • Исследование бинарных полупроводников
    Опубліковано: (Кишинев, Штиинца, 1983)
  • Основы электронной микроскопии: учебное пособие для вузов
    за авторством: Бушнев Л. С. Лев Сергеевич
    Опубліковано: (Томск, Изд-во Том. ун-та, 1990)