• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Pokročilé
  • Методы исследования структуры...
  • Vytvořit citaci
  • Zaslat SMS
  • Poslat e-mailem
  • Vytisknout
  • Exportovat záznam
    • Exportovat do RefWorks
    • Exportovat do EndNoteWeb
    • Exportovat do EndNote
  • Trvalý odkaz
Методы исследования структуры полупроводников и металлов учебное пособие

Методы исследования структуры полупроводников и металлов, учебное пособие

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Бублик В. Т. Владимир Тимофеевич
Další autoři: Дубровина А. Н. Анна-Аида Николаевна
Jazyk:ruština
Vydáno: Москва, Металлургия, 1978
Témata:
Полупроводники > Структура
структура
исследование
методы
световые микроскопы
световая микроскопия
рентгеновская дифракция
рентгеноструктурный анализ
нейтроны
электроны
дифракция
электронная микроскопия
учебные пособия
Médium: Kniha
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=303151
  • Jednotky
  • Popis
  • Podobné jednotky
  • UNIMARC/MARC
Popis
Fyzický popis:272 с. ил.

Podobné jednotky

  • Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия пер. с англ.
    Autor: Синдо Д Дайзуке
    Vydáno: (Москва, Техносфера, 2006)
  • Исследование бинарных полупроводников
    Vydáno: (Кишинев, Штиинца, 1983)
  • Т. 2
    Vydáno: (2010)
  • Структура и свойства анодных пленок [Al2O3]
    Vydáno: (2004)
  • Основы электронной микроскопии учебное пособие для вузов
    Autor: Бушнев Л. С. Лев Сергеевич
    Vydáno: (Томск, Изд-во Том. ун-та, 1990)