MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 299641
005 20231102001225.0
020 |a RU  |b 83-887 
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\324793 
090 |a 299641 
100 |a 20150701d1982 k y0rusy5003 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Физические основы полупроводниковой тензометрии  |e межвузовский сборник научных трудов  |f Новосибирский электротехнический институт (НЭТИ) ; под ред. В. С. Шадрина 
210 |a Новосибирск  |c Изд-во НЭТИ  |d 1982 
215 |a 223 с.  |c ил. 
320 |a Библиогр. в конце ст. 
606 1 |a Тензометрия  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\59410  |9 76963 
610 1 |a тензометры полупроводниковые 
610 1 |a физика 
610 1 |a тензоэлектрические свойства 
610 1 |a нелинейность 
610 1 |a температурный дрейф 
610 1 |a тензорезисторы 
610 1 |a тензометрические мосты 
610 1 |a интегральные схемы 
675 |a 531.781  |z rus  |v 3 
702 1 |a Шадрин  |b В. С.  |g Владимир Степанович  |4 340 
712 0 2 |a Новосибирский электротехнический институт (НЭТИ)  |c (1950-1992)  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\203 
801 0 |a RU  |b RuMRKP  |c 19950704  |g psbo 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20150701 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20191111  |g RCR 
942 |c BK