• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Avanzado
  • Анализ надежности микроэлектро...
  • Citar
  • Describir
  • Enviar este por Correo electrónico
  • Imprimir
  • Exportar Registro
    • Exportar a RefWorks
    • Exportar a EndNoteWeb
    • Exportar a EndNote
  • Enlace Permanente
Анализ надежности микроэлектронных систем при автоматизированном проектировании

Анализ надежности микроэлектронных систем при автоматизированном проектировании

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Брюнин В. Н. Владимир Николаевич
Otros Autores: Булатов М. Х. Мансур Хуснетдинович
Lenguaje:ruso
Publicado: Москва, Радио и связь, 1984
Materias:
Микроэлектронные схемы интегральные > Расчет на надежность на вычислительных машинах > Надежность
Микроэлектронные схемы интегральные - Расчет на надежность на вычислительных машинах
сложные микроэлектронные системы
анализ
моделирование
методы
алгоритмы
автоматизированные системы
Formato: Libro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=294504
  • Existencias
  • Descripción
  • Ejemplares similares
  • Vista Equipo
Descripción
Descripción Física:215 с. ил.

Ejemplares similares

  • Параметрическая надежность и физические модели отказов интегральных схем: [монография]
    por: Сыноров В. Ф. Владимир Федорович
    Publicado: (Воронеж, Изд-во Воронежского ун-та, 1983)
  • Моделирование цифровых систем на языке VHDL; Концепция моделирования на уровне ИС: пер. с англ.
    por: Армстронг Дж. Р. Джеймс Р.
    Publicado: (Москва, Мир, 1992)
  • № 6 (12); Качество и надежность изделий; Ускоренные испытания элементов и систем; Элементы физико-статистической теории надежности интегральных микросхем
    Publicado: (1990)
  • Кн. 5: Качество и надежность интегральных микросхем; Микроэлектроника
    por: Козырь И. Я. Иван Яковлевич
    Publicado: (1987)
  • Технологическая оптимизация микроэлектронных устройств СВЧ учебное пособие
    por: Гудков А. Г.
    Publicado: (Москва, МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2014)