Тезисы докладов IV Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел - "РЭМ-84", апрель 1984 г., г. Звенигород

Тезисы докладов IV Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел - "РЭМ-84", апрель 1984 г., г. Звенигород

Dades bibliogràfiques
Autor corporatiu:	Академия наук СССР (АН СССР) Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова (ИК) (570), Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова (МГУ), Всесоюзный симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел - "РЭМ-84"
Altres autors:	Спивак Г. В. (редактор)
Idioma:	rus
Publicat:	Москва, Изд-во МГУ, 1984
Matèries:	Электронная микроскопия приборостроение исследование полупроводники Оже-спектроскопия рентгеновский микроанализ биология материаловедение доклады
Format:	Llibre
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=294287

Ítems similars

Тезисы докладов VI Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-89): Звенигород, апрель 1989 г.
Publicat: (Звенигород, Изд-во АН СССР, 1989)

Кн. 2; Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ
Publicat: (1984)

Кн. 1; Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ
Publicat: (1984)

Применение электронной микроскопии в современной технике: тезисы докладов симпозиума
Publicat: (Москва, [Б. и.], 1978)

Растровая электронная микроскопия. Разрушение: справочник; пер. с нем.
per: Энгель Л.
Publicat: (Москва, Металлургия, 1986)

Методика электронной микроскопии: пер. с нем.
per: Шиммель Г. Герхард
Publicat: (Москва, Мир, 1972)

Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию: пер. с англ.
per: Эгертон Р. Ф. Рэй Ф.
Publicat: (Москва, Техносфера, 2010)

Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения: учебное пособие
Publicat: (Москва, Техносфера, 2009)

Трехмерная электронная микроскопия в реальном времени: учебное пособие; пер. с англ.
per: Зевайль А. Ахмед
Publicat: (Долгопрудный, Интеллект, 2013)

Bildinterpretation in der Hochauflosungs-Elektronenmikroskopie
Publicat: (Berlin, Akademie-Verlag, 1984)

Введение в просвечивающую электронную микроскопию твердых тел и биологических объектов: [учебное пособие]
per: Хатанова Н. А. Нина Абдуловна
Publicat: (Москва, Изд-во Московского ун-та, 1983)

Микроанализ и растровая электронная микроскопия: пер. с фр.
Publicat: (Москва, Металлургия, 1985)

Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов: пер. с англ.
per: Фульц Б. Брент
Publicat: (Москва, Техносфера, 2011)

Локальные методы анализа материалов
Publicat: (Москва, Металлургия, 1973)

Гетерогенность состава и строения минералов Урала: [сборник]
Publicat: (Свердловск, Изд-во АН СССР, 1979)

Методы локального анализа иэлектронная микроскопия Учебное пособие
per: Ищенко А. А.
Publicat: (Москва, РТУ МИРЭА, 2021)

Рентгеновский микроанализ с электронным зондом в минералогии: материалы IX съезда ММА, 4-10 сентября 1978 г., г. Новосибирск
Publicat: (Новосибирск, Наука, 1980)

Развитие метода электронной микроскопии для изучения стехиометрических процессов с участием соединений переходных металлов и каталитических реакций тонкого органического синтеза в однородных и структурированных жидких средах: автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора химических наук; спец. 1.4.14
per: Кашин А. С. Алексей Сергеевич
Publicat: (Москва, 2024)

Трехэлектронный оже-распад в атомах; Оптика и спектроскопия; Т. 59, вып. 2
per: Амусья М. Я.
Publicat: (1985)

Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: пер. с англ.
per: Брандон Д.
Publicat: (Москва, Техносфера, 2006)

Акцессорные и рудные минералы Урала: [сборник]
Publicat: (Свердловск, Изд-во УНЦ, 1976)

Современные методы электронной микроскопии учебно-методическое пособие
per: Миронов С. Ю.
Publicat: (Белгород, НИУ БелГУ, 2023)

Введение в нанотехнологию
per: Марголин В. И.
Publicat: (Санкт-Петербург, Лань, 2022)

Кн. 1; XIV Всесоюзное совещание по рентгеновской и электронной спектроскопии, 3-5 октября 1984 г., г. Иркутск
Publicat: (1984)

Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов: учебное пособие для академического бакалавриата
per: Суворов Э. В. Эрнест Витальевич
Publicat: (Москва, Юрайт, 2019)

Околорудные метасоматиты барит-полиметаллических месторождений Змеиногорского рудного района (Рудный Алтай); Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]. Инжиниринг георесурсов; Т. 328, № 9
per: Бестемьянова К. В. Ксения Викторовна
Publicat: (2017)

Определение глинистых минералов методами сканирующей электронной микроскопии и рентгеноструктурного микроанализа; Проблемы геологии и освоения недр; Т. 1
per: Данг Т. Ф. Т.
Publicat: (2016)

Двойной Оже-распад в рамках МВТ; Известия вузов. Физика; т. 32, № 7
per: Ли И. С.
Publicat: (1989)

Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей: учебное пособие
per: Батаев В. А. Владимир Андреевич
Publicat: (Новосибирск, Изд-во НГТУ, 2006)

Зондирующие методы исследований в материаловедении: учебное пособие
per: Карпасюк В. К. Владимир Корнилович
Publicat: (Астрахань, Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014)

Лабораторный практикум по общей химической технологии; Вып. 1
Publicat: (Москва, Издание Академии, 1940)

Исследование наноструктурированных материалов методом растровой электронной микроскопии учебно-методическое пособие для вузов
per: Юраков Ю. А.
Publicat: (Воронеж, ВГУ, 2014)

Ч. 2; Восьмая Всесоюзная конференция по локальным рентгеноспектральным исследованиям и их применению, 21-23 сентября 1982 г.
Publicat: (1982)

Сдвоенный Оже-распад двух К-вакансий в неоне; Журнал технической физики; Т. 54, вып. 5
per: Амусья М. Я.
Publicat: (1984)

Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей: учебное пособие
per: Батаев В. А. Владимир Андреевич
Publicat: (Москва, Флинта, 2008)

Т. 14; Электроника
Publicat: (1982)

Перспективы микроанализа; Химия и жизнь - XXI век; № 2
per: Мартин А. Арчер
Publicat: (2003)

Т. 1. Вып. 2; Химико-технические методы исследования
Publicat: (1937)

An auger spectrometer control system; Control and Communications (SIBCON)
Publicat: (2016)

Сателлитные Оже-переходы в KrII; Физико-технические проблемы в науке, промышленности и медицине
per: Килин В. А. Виктор Андреевич
Publicat: (2015)